ISSM AI技術コンテスト2020
SEM画像分類のAIアルゴリズムコンテスト部門
本コンテストは半導体製造装置現場で発生する実データを用い、 実践的な研究開発の裾野を広げることを目的とします。 このコンテストは、半導体製造の歩留まり向上に必須である「SEM画像中の欠陥・パーティクル分類」アルゴリズムのコンテストです。実際の半導体製造に使われた約4,000枚のパーティクルSEM画像を、指定されたカテゴリに自動分類する学習モデルを作成して頂きます。パーティクル領域の特定と分類精度について、半導体製造にベテランのエンジニアが分類済みのリストとの一致度を競います。
エントリー
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コンテストの応募要項
- 参加資格 学生（個人、チームいずれの参加も可能です）
- Kaggle in Classを使ったコンテスト
Kaggle in Classは、世界中の数百の大学でデータ解析技術の演習に用いられているツールです。初めてKaggleに挑戦したい方にもお薦めです。 - 使用言語
Python - 課題「SEM画像中の欠陥分類」と評価
欠陥・パーティクルの SEM 画像を 指示されたクラスに分類し、分類正答率でランキングを競います。 - 求めたいスキル
基本的な画像認識・分類に関する手法に加えて、データ不均衡・不明瞭クラス・微小欠陥など、半導体製造現場における実運用時に発生するデータ・課題への対応が求められます。 - 提出物
・コード Kaggle上に提出
・アブストラクト MS Word 1ページ（日英いずれでも可）を事務局に提出 - 提供データセット（実際に半導体製造に使われたSEM画像が提供されます）
学習データ： 3,400～4,000 サンプル
テストデータ： 200～300 サンプル（予備実験で誤分類したサンプルを多く含みます）
(ISSM委員企業より提供)
提出
1. Kaggleコード： 参照の上、Kaggle上に提出してください。提出方法はこちらをご参照ください。
2. アブストラクト：（ワード形式 ISSMテンプレート使用）を下記DropBoxへアップロードしてください。
ファイル名にはチーム名を必ず記載してください。
例） Team-ISSM.docx
ISSM SEM Image Classification AI Algorithm Contest
スケジュール （締切延長しました）
- エントリー締切 2020年11月13日
（エントリー後、画像が見られるようになりますので早目のエントリーをお薦めします） - Kaggleユーザー登録開始 2020年9月15日（予定）
- コード提出締切 2020年12月4日
- アブストラクト締切 2020年12月4日（MS Word 1ページ）
表彰
- 分類の正答率をもとに、 最優秀賞、 技術賞を表彰します。 表彰者・表彰チームには、 表彰状と賞品が授与されます。
- 表彰式
優秀者・チームはISSM 2020（2020年12月15日~16日ONLINE開催）で表彰します。