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技術分析(製造・検査装置)

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ペロブスカイト太陽電池の実用化を目指す自動成膜装置を産総研が試作

ペロブスカイト太陽電池の実用化を目指す自動成膜装置を産総研が試作

産業技術総合研究所は、ペロブスカイト構造の太陽電池の実用化に向け、自動作製システムを試作した。ペロブスカイト太陽電池は、変換効率がシリコン以上の高い効率を示す試作は多いが、バラつきが大きいと共に、経時変化が大きく劣化しやすい、大面積が難しいなどの問題が山積み。少しでも手作業による作製ではなく自動機によってバラツキを減らす狙いで装置を開発した(図1)。 [→続きを読む]

Keysight、最高帯域幅1GHz、14ビット分解能の統合オシロを137万円台から

Keysight、最高帯域幅1GHz、14ビット分解能の統合オシロを137万円台から

Keysight Technologiesは、周波数帯域200MHz~1GHz、サンプリングレート3.2Gサンプル/秒という2チャンネル/4チャンネルのオシロスコープ(図1)を137万円から発売した。オシロスコープといってもFFTを掛ければスペクトラムアナライザになる上、信号発生器やロジックアナライザ機能も内蔵しており、統合測定器ともいえるが、分解能が高くノイズが極めて低い。 [→続きを読む]

Keysight、半導体測定器を拡充、EDA管理ツールやIC内ワイヤーの非破壊検査

Keysight、半導体測定器を拡充、EDA管理ツールやIC内ワイヤーの非破壊検査

半導体の高周波特性やさまざまなパラメータ特性を測定する計測器を設計・製造しているKeysight Technologyが、今年で10回目となるプライベート展示会Keysight Worldを東京・JPタワーホール&カンファレンスで開催した。ここでVLSI 設計データのライフサイクルマネージメントやチップレットの設計ツール、静電容量方式によるボンディングワイヤーの非破壊検査などを紹介している。 [→続きを読む]

高NA EUVリソグラフィ装置第1号をIntelオレゴン工場に導入、組み立てた

高NA EUVリソグラフィ装置第1号をIntelオレゴン工場に導入、組み立てた

Intelは1.8nmプロセスノードに相当するIntel 18Aに向け、オランダASML社製の高NAのEUVリソグラフィ装置「TWINSCAN EXE:5000」(図1)をプロセス開発拠点のあるオレゴン工場に導入した。まずIntel 18Aプロセスノードから導入し、Intel 14Aノードへと拡張していく予定だ。Intelのファウンドリ事業部が導入しTSMCに追いつき追い越す計画を進める。 [→続きを読む]

Keysight、1台でsパラ、変調歪、NFを一度に測れるVNAアナライザを顔見せ

Keysight、1台でsパラ、変調歪、NFを一度に測れるVNAアナライザを顔見せ

5Gやミリ波などRFチップの高周波特性の測定では時間がかかることが多い。Keysight Technologyが先週、マイクロ波関係の展示会MWE2023で見せたENA-Xベクトルネットワークアナライザ(VNA)は、最大44GHzまでのsパラメータと変調歪解析、NF測定を1度の接続で全て測れる便利な測定器だ。日本初の公開である。 [→続きを読む]

パワーデバイスの真のスイッチング特性を得る測定器をKeysightがデモ

パワーデバイスの真のスイッチング特性を得る測定器をKeysightがデモ

ガレージ実験室から始まったHewlett-Packard社をルーツに持つKeysight TechnologyがSiCやGaNなど高速パワーデバイスのダイナミック特性を測る計測器「PD1550A」(図1)をKeysight World 2023で展示した。もともと高周波測定機に強いKeysightが、パワー半導体の測定にもその強みを発揮する。特にSiCのスイッチング動作に悩まされてきたエンジニアには福音となる。 [→続きを読む]

GaN結晶からウェーハにスライスするレーザー技術で生産性を上げる

GaN結晶からウェーハにスライスするレーザー技術で生産性を上げる

GaNパワーデバイスがすでにスマートフォンの急速充電器などに使われているが、GaN結晶の加工にもメドがついたようだ。SiC同様、GaNバルク結晶も固く、バルクのインゴットからウェーハにスライスすることが難しかった。ディスコが比較的簡単にスライスできる技術を開発、ウェーハとして使える収量も37.5%増やせることがわかった。 [→続きを読む]

アドバンテスト、次世代IC製品向けのテスターを続々発表

アドバンテスト、次世代IC製品向けのテスターを続々発表

アドバンテストが次世代IC製品に向けたテスターをセミコンジャパン2022で相次いで発表した。メモリテスター「inteXcell」(図1)や、VR/ARなどのディスプレイや車載用高精度ディスプライドライバICテスター向けのモジュール「LCD HP」、USB-Type CのパワーデリバリーICテスター向けモジュールなど未来志向の製品向けのテスターやモジュールなどである。 [→続きを読む]

sパラ、NF、変調特性も一度に測定できるPXIアナライザをKeysightが発売

sパラ、NF、変調特性も一度に測定できるPXIアナライザをKeysightが発売

次世代の5Gやビヨンド5Gなどミリ波対応のRFチップの高周波特性を測定するネットワークアナライザが驚くほど小型になった。高周波測定器で定評のあるKeysight Technologyは、PXIモジュールベースのネットワークアナライザ「M9834A/M9837A」(図1)を発売した。sパラメータだけではなくLNAのノイズ指数や変調解析も片手で持てるモジュールで測定できる。 [→続きを読む]

Keysight、デジタル技術を駆使した最大54GHzのベクトル信号発生器

Keysight、デジタル技術を駆使した最大54GHzのベクトル信号発生器

Keysight Technologiesは、最大54GHzまでの高周波信号を発生するベクトル信号発生器「M9484C VXG」(図1)を発売した。5G あるいはBeyond 5G用のICチップや高周波回路にテストに使う。オプションで「V3080A Vector SG」周波数エクステンダを装着すると、最大周波数を110GHzまで伸ばすことができる。 [→続きを読む]

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