鴨志田元孝の技術つれづれ

後編では、筆者なりにFMEA (Failure Mode and Effects Analysis) をAI、ディープラーニングの支援を受けて実施すると仮定したら、どのようなメリットがあるかを推察してみた。 [→続きを読む]

今年もまた国際画像機器展2019 (International Technical Exhibition on Image Technology and Equipment 2019、以下ITE 2019と略記)が12月4日-6日にパシフィコ横浜で開催された（参考資料1）。筆者は10年以上前に、超音波診断装置が描出する画像データの原理を知りたくて、見学するようになったのが、この展示会を訪れるようになったきっかけであった。 [→続きを読む]

縁あって「IoTの概論」を外国からの客に説明することになった。客と言ってもITを専攻している学生、院生、研究者達である。当方はLSIの製造技術に関しては、少しはわかるものの、IoTに関してIT専門家の前で話ができるレベルでは到底ない。今更ITを専攻している来客に「IoTとは」でもあるまいと思い、日本のIoTの活動状況の例を紹介することにして、資料収集と共に、恥ずかしいながら付け焼刃でIoTの論文を読み漁った。その印象を2点ほど以下にまとめたい。 [→続きを読む]

大勢の同僚に囲まれている職場や、同じ研究に取り組んでいる仲間と話をする機会が多い環境にいる場合は、常に新鮮な情報が入ってきて、刺激を受けることができる。筆者もNECやNECグループ会社時代は幸いにもそうであった。しかし一旦退職して独りになると、そのような刺激は望むべくもない。先ず実験装置を動かすことはもちろん、同僚の生データを見る機会がなくなる。従って議論する機会がなくなり、専門分野でも理解が疎かになる場合が生じる。正しい知識を積み重ねるためにも、以て自戒すべきと思っている。 [→続きを読む]

「IEEE EDS Japan Chapter総会およびIEDM報告会」が2017年2月15日に東京大学山上会館で開催された（参考資料1）。前年12月のIEDM2016の報告が行われるので、IEDM出席もままならぬ身には大変貴重な報告会である。例年のように分野別にそれぞれの専門家による詳細な説明がなされた。 [→続きを読む]

以前より、半導体微細加工技術はナノテクノロジー（以下ナノテクと記す）分野の発展に貢献できるので、衰退する日本の半導体産業界の研究者や技術者の力を生かすためにも、その力が散逸する前に日本のナノテク産業の振興を急ぐように提唱してきた（参考資料1）。またその際、単に微細加工技術や製造設備技術のみでなく、計測や製造モニター技術も利用できることを指摘した（参考資料2）。半導体分野の広い裾野も活用できるはずだからである。 [→続きを読む]

先ずは長期的視野を持とう 久し振りに機械振興会館に行った。目的は2015年9月26日に開催されたIEEE 東京支部講演会に出席して、東京工業大学名誉教授岩井洋先生の「2015年IEEE Cledo Brunetti Award受賞記念『微細化限界が迫る電子デバイスの未来』」（参考資料1）を聴講するためであった。まずは御受賞に対して心より御祝詞と、先生の日頃の御研鑽に敬意を表したい。 [→続きを読む]

この度、東北大学原子分子材料科学高等研究機構、兼マイクロシステム融合研究開発センター長である江刺正喜教授のご厚意で、平成26年1月9日、10日の両日にわたって開催された二つの研究会（参考資料1，2）に出席する機会を与えていただいた。 [→続きを読む]

固定概念や先入観からの脱却は難しいものだとつくづく感じた。私事に関わることなのでこのコラムの目的には沿わないかもしれないが、この度、50年越しの疑念が少し晴れたような気がしたので、恥を承知で敢えてまとめてみたい。反面教師として読んでいただければ幸いである。 [→続きを読む]

今年も1月30日〜2月1日に東京ビッグサイトでnano tech 2013（参考資料1）が開催された。年々充実され、盛況になっていくのが肌で感じられるのは喜ばしい。昨年も記述（参考資料2）したが、専門家や、研究機構の室長あるいは大学教授クラスまでが説明員としてブースに立ち、懇切丁寧に話をしてくれるのもこの展示会の特徴である。筆者のように組織を退職し、わからないことを気楽に聞ける環境を失った者にとって、日頃の不明な点を専門家の説明で一挙に解消し、かつ思い浮かばなかった点についても気付かされることがあるのは、大変ありがたいことでもあり、楽しいことでもある。 [→続きを読む]